%0 Journal Article
%T CHARACTERIZATION OF Hg1-xCdxTe EPITAXIAL FILMS ON VARIOUS VICINAL PLANES<br>不同邻晶面Hg1-xCdxTe外延薄膜的特性分析
%A LI BIAO
%A CHU JUN-HAO
%A ZHU JI-QIAN
%A CHEN XIN-QIANG
%A CAO JU-YING
%A TANG DING-YUAN
%A <br>李标
%A 褚君浩
%A 朱基千
%A 陈新强
%A 曹菊英
%A 汤定元
%J 物理学报
%D 1997
%I 
%X 在取向不同的CdTe衬底上用液相外延技术生长了Hg1-xCdxTe薄膜，结合金相显微镜、红外显微镜、X射线双晶衍射、红外吸收及Raman光谱等手段分析了不同邻晶面外延层的性质，结果表明，在“近平面”（衬底偏角δ＜0.1°）或“无台阶面”（δ≈1.2°）上生长的外延层的晶格质量及光学性能较好
%K 汞镉碲
%K 外延薄膜
%K 薄膜特性
%K 红外材料
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=23BAA394FB154588860271802DC7CD98&yid=5370399DC954B911&vid=D997634CFE9B6321&iid=B31275AF3241DB2D&sid=C4690645D4CCDCE7&eid=778972EBEFCE1267&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=4