%0 Journal Article
%T 弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒的探测
%A 白春礼
%A 郭仪
%J 物理学报
%D 1995
%I 
%X 用弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒测试,直接得出定点的势垒特性和纳米尺度的界面图象.通过所测的I-(c)-V曲线,可得所测点的肖特基势垒高度及电荷传输特性.界面图象可以显示界面极小范围内势垒的特性.
%K BEEM
%K 金属／半导体
%K 界面
%K 势垒
%K 探测
%K 金
%K 硅
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=FCAE0A99323261C31FF19EBF5ADFE0B7&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=1AE5323881A5ECDC&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=76B5E24D6EC46B4B&eid=58F693790F887B3B&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=1&reference_num=1