%0 Journal Article
%T DETERMINATION OF SUPERCONDUCTING ENERGY GAP OF HEAVILY DOPED Re THIN FILMS BY ELECTRON TUNNELING<br>用Re/Al2O3/Al隧道结的电子隧道测定重掺杂Re膜的超导能隙
%A WANG RUI-LAN
%A LI HONG-CHENG
%A GUAN WEI-YAN
%A <br>王瑞兰
%A 李宏成
%A 管惟炎
%J 物理学报
%D 1987
%I 
%X 用Re/Al2O3/Al隧道结的电子隧道测定了重掺杂Re膜的超导能隙,△0=(1.04±0.02)meV,2△0/kTc=3.31±0.04。△0值是用电导极大值法确定的。结果表明,杂质使Re膜的Tc与能隙△0增加了许多倍,但是Re仍然属于弱耦合超导体。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=CE9A5B157A6EE9CBEB4D0087046FA1B4&yid=9C2DB0A0D5ABE6F8&vid=933658645952ED9F&iid=59906B3B2830C2C5&sid=ADEE3E9286A455E3&eid=9036AC33107DC7C4&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0