%0 Journal Article
%T PULSE CALIBRATION TECHNIQUE OF X-RAY DETECTOR<br>X射线探测器的脉冲标定技术
%A SUN JING-WEN
%A <br>孙景文
%J 物理学报
%D 1986
%I 
%X 利用强流电子束技术产生通量密度为1018—1019X-ray photon/sr·s的脉冲CuKX射线源,标定PIN型硅二极管半导体探测器对X光子的脉冲灵敏度。用绝对X射线监测器——P10气体脉冲电离室作为脉冲X射线通量密度的标准。脉冲电荷自动测量仪由微处理机进行程序控制,并予以实时校准。该电离室测量通量密度的精度为±5％,适用的能通量率范围可达4×10-9—2×102W/cm2,适用的光子能量范围为1.5—10keV,标定探测器的精度为±7.0％,并发现PIN型硅二极管的脉冲灵敏度比稳态X射线束标定的灵敏度高30％左右。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=355FA13E95A9BBFC11E6B22BCD7442EA&yid=4E65715CCF57055A&vid=6209D9E8050195F5&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=F90340A344159B2E&eid=BF1420E7E18952EE&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0