%0 Journal Article
%T c向静电场作用下α-LiIO3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理
%A 杨华光
%A 李晨曦
%A 许政一
%J 物理学报
%D 1983
%I 
%X 在c向静电场作用下,α-LiIO3单晶的喇曼谱发生“串线”,并且谱线强度改变。本文分析了这一现象的起因:由于离子输运引起的空间电荷涨落使α-LiIO3单晶的极化率张量和喇曼张量主轴方向发生涨落。前者产生o←→e光散射,散射光再发生一次喇曼散射,造成喇曼谱“串线”和谱线强度的改变;后者直接造成喇曼诺“串线”和谱线强度的变化。前者的贡献远大于后者。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=C2B5491618A56CE9F68DD0878ADB7CB3&yid=A7F20A391020FDEE&vid=9971A5E270697F23&iid=E158A972A605785F&sid=92DA076AF6760FAC&eid=BA305A52E2EE9350&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0