%0 Journal Article
%T 高聚物(PEO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下的介电常数研究
%A 谢斌
%A 苏昉
%A 王文楼
%J 物理学报
%D 1995
%I 
%X 选用分子量500万的聚氧化乙烯,通过混溶蒸发法制备出一系列高聚物(PEO)_(?)-CuBr_2(n=4,8,12,16,24)薄膜,并在0.1—2443MPa范围不同的流体静压力下测量了它们的相对介电常数,分别探讨了高聚物薄膜在室温常压和高压下离子电导率与介电常数的关系。实验结果证实:添加介电常数较高及本体粘度较低的增塑剂C_4H_6O_3后,当其相对浓度npc/n_c=20％时,不仅该薄膜的室温常压离子电导率明显提高6.8倍,而且其压力下的离子电导率也提高1(0.1—100MPa)至2(350—800
%K 高聚物薄膜
%K 薄膜
%K 介电常数
%K 高压力
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=FCAE0A99323261C3B6654D5472F968A2&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=1AE5323881A5ECDC&iid=B31275AF3241DB2D&sid=6484E0C1B87D264C&eid=A02B0E6E62BE4F0C&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=7