%0 Journal Article
%T 静电场作用下α一LiIO3单晶中子衍射增强现象的理论解释
%A 许政一
%A 李铁城
%A 顾本源
%J 物理学报
%D 1979
%I 
%X 本文根据(1)在偏振锥光下,用显微镜观察到α-LiIO3单晶中层状缺陷在静电场作用下的变化;(2)静电场对a-LiIO3单晶的X射线形貌象的影响;(3)用X射线双晶衍射测得α-LiIO3单晶晶格参数的不均匀性,指出α-LiIO3单晶在静电场作用下中子衍射增强现象是由于晶体中的空间电荷(载流子、杂质离子和空位)在宏观尺度缺陷处富集,造成晶格参数有一定梯度。我们对通常计算中子布喇格散射截面的玻恩近似,引入消光修正,得到畸变晶格中子衍射强度公式,可以解释文献4—6]中观察到的各种现象。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=8D312A20B1544AF980BC447378F32405&yid=8C8371356FB4C85C&vid=D3E34374A0D77D7F&iid=94C357A881DFC066&sid=6700D0D256586E73&eid=F24949CFDB502409&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0