%0 Journal Article
%T A METHOD OF MEASURING TENSOR SUSCEPTIBILITY AND EFFECTIVE LINEWIDTH<br>一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法
%A LIAO SHAO-BIN
%A YIN GUANG-JUN
%A LIU JIN
%A ZHOU LI-NIAN
%A <br>廖绍彬
%A 尹光俊
%A 刘进
%A 周丽年
%J 物理学报
%D 1980
%I 
%X 本文提出一种能用同一样品测定共振区和非共振区的微波张量磁化率和有效线宽的方法。在此方法中,将外加稳恒磁场旋转,与微波磁场形成一定的夹角,以调整被测样品对谐振腔的影响。同时将Patton采用的计算有效线宽的迭代法,推广用来计算微波张量磁化率各组元Xe,Xαe和正。负圆偏振标量磁化率X±e等。本文还介绍了测量装置和测量结果。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=89213F744B1E80C08C4B9EB5AE6401D5&yid=E56875464B1C0EC1&vid=771469D9D58C34FF&iid=94C357A881DFC066&sid=0636354D8CF77519&eid=7C13E30F5EDBE7AB&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0