%0 Journal Article
%T THE RELATION BETWEEN SPECTRAL LINE INTENSITY AND CONCENTRATION OF THE CONSTITUENT IN THE PRESENCE OF SELF-ABSORPTION<br>有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系
%A HO I-DJEN
%A HSU SHENG-MEI
%A <br>何怡贞
%A 徐升美
%J 物理学报
%D 1958
%I 
%X 谱线强度(I)与物质浓度(C)之间的定量关系是定量光谱分析的物理基础。由于实际光源中的谱线或多或少地都有自吸收现象,所以在实际情形下,I与C的关系是较为复杂的。本文中应用迁移取样法进行铸铁中的硅的光谱分析,选择了适当的条件,使Si 2516多重谱线系中的Si 2519线在光源中不发生自吸收,因而可以用它的强度代表光源中的物质浓度,同时测定了多重谱线系中发生自吸收最严重的Si 2516线的定标曲线斜度b与物质浓度C的关系(b=klogC+β+1),从而得出I与C的关系式如下:logI=k/2(logC)2+(β+1)logC+α,这里β与α是试验条件下的两个常数;k是b与logI2519的关系直线的斜度。在理想的情形,当谱线没有自吸收时,b=1,k=0,所以logI与logC之间便有直线的关系;当谱线有自吸收时,谱线的强度与物质的浓度有抛物线的关系。这个关系式所描述的与在较大浓度范围内一般实验中所观察的一致。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=D57DC3FDBDE86C1F&yid=D1DB94C1649032D3&vid=F3583C8E78166B9E&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=318E4CC20AED4940&eid=E84BBBDDD74F497C&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0