%0 Journal Article %T PDSOI DTMOS for analog and RF application
部分耗尽DTMOS的模拟和射频特性研究 %A Wang Yiqi %A Liu Mengxin %A Bi Jinshun %A Han Zhengsheng %A
王一奇 %A 刘梦新 %A 毕津顺 %A 韩郑生 %J 半导体学报 %D 2011 %I %X 基于0.35μm部分耗尽SOI CMOS工艺技术平台,我们实现了一种H栅型PDSOI动态阈值MOS晶体管。通过比较H栅型PDSOI动态阈值NMOS和传统PDSOI H栅NMOS的模拟和射频特性,我们深入研究了此类H栅型PDSOI动态阈值NMOS不同于其他H栅MOS器件的工作原理和物理机制。实验结果表明,此类H栅型PDSOI动态阈值NMOS在栅源电压为0.7V和漏源电压为1V的情况下,可获得40GHz截止频率和29.43GHz最大振荡频率。 %K silicon-on-insulator %K dynamic threshold voltage %K analog and RF characteristics
绝缘体上硅 %K 动态阈值电压 %K 模拟和射频特性 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=9CB13B1D439D6A76A99B817339CC9682&yid=9377ED8094509821&vid=9971A5E270697F23&iid=94C357A881DFC066&sid=F30C8D2FD1A068A8&eid=94C357A881DFC066&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0