%0 Journal Article
%T Robust and low power register file in 65 nm technology
65nm下低功耗稳定性高的寄存器堆的设计
%A Zhang Xingxing
%A Li Yi
%A Xiong Baoyu
%A Han Jun
%A Zhang Yuejun
%A Dong Fangyuan
%A Zhang Zhang
%A Yu Zhiyi
%A Cheng Xu
%A Zeng Xiaoyang
%A
张星星
%A 李毅
%A 熊保玉
%A 韩军
%A 张跃军
%A 董方圆
%A 张章
%A 虞志益
%A 程旭
%A 曾晓洋
%J 半导体学报
%D 2012
%I
%X 本文详细分析了低功耗稳定性高的32x32, 4读2写的寄存器堆,提出了采用MUX和锁存器的输出结构。该输出结构没有任何动态或模拟电路,提高了鲁棒性的同时降低了功耗。简化的时序不仅降低了功耗,而且增强了鲁棒性。连续读“0”或“1”的时候,这种结构能够消耗更小的功耗。该寄存器堆已在65nm下流片,芯片测试结果显示,它1.2V电源电压下,工作频率为0.8GHZ,消耗功耗7.2mW。
%K register file
%K 65 nm
%K robust
%K low power
%K multi-port
寄存器堆
%K 65nm
%K 多端口
%K 稳定性高
%K 低功耗
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=F1E2B134F3CCFA088A6C1A2F1B122B43&yid=99E9153A83D4CB11&vid=27746BCEEE58E9DC&iid=38B194292C032A66&sid=13D1CB10A32A4AE8&eid=94C357A881DFC066&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=12