%0 Journal Article %T Robust and low power register file in 65 nm technology
65nm下低功耗稳定性高的寄存器堆的设计 %A Zhang Xingxing %A Li Yi %A Xiong Baoyu %A Han Jun %A Zhang Yuejun %A Dong Fangyuan %A Zhang Zhang %A Yu Zhiyi %A Cheng Xu %A Zeng Xiaoyang %A
张星星 %A 李毅 %A 熊保玉 %A 韩军 %A 张跃军 %A 董方圆 %A 张章 %A 虞志益 %A 程旭 %A 曾晓洋 %J 半导体学报 %D 2012 %I %X 本文详细分析了低功耗稳定性高的32x32, 4读2写的寄存器堆,提出了采用MUX和锁存器的输出结构。该输出结构没有任何动态或模拟电路,提高了鲁棒性的同时降低了功耗。简化的时序不仅降低了功耗,而且增强了鲁棒性。连续读“0”或“1”的时候,这种结构能够消耗更小的功耗。该寄存器堆已在65nm下流片,芯片测试结果显示,它1.2V电源电压下,工作频率为0.8GHZ,消耗功耗7.2mW。 %K register file %K 65 nm %K robust %K low power %K multi-port
寄存器堆 %K 65nm %K 多端口 %K 稳定性高 %K 低功耗 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=F1E2B134F3CCFA088A6C1A2F1B122B43&yid=99E9153A83D4CB11&vid=27746BCEEE58E9DC&iid=38B194292C032A66&sid=13D1CB10A32A4AE8&eid=94C357A881DFC066&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=12