%0 Journal Article
%T 电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计
%A 何为
%A 何传红
%A 刘斌
%J 重庆大学学报
%D 2009
%X 电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求，为此研制了基于现场可编程门阵列(fieldprogrammablegatearray,FPGA)的数字相敏检波器(digitalphasesensitivedetector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上，推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系。给出了测量系统的实现方案，提出了基于直接数字频率合成(directdigitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analogtodigital
%K 电阻抗成像
%K 数字相敏检波器
%K 信噪比
%K 现场可编程门阵列
%U http://qks.cqu.edu.cn/cqdxzrcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200911008&flag=1