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532nm脉冲激光辐照ccd实验研究

, PP. 0-0

Keywords: 激光辐照,破坏机理,ccd探测器,光电对抗

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?采用532nm,10ns的脉冲激光对面阵ccd进行辐照实验,对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析,根据实验现象,把脉冲激光对ccd的硬破坏分为3个阶段:第1阶段在低能量密度激光辐照下,被破坏的ccd局部出现无法恢复的白色盲点,但其它部分仍可正常成像;第2阶段ccd探测器受到激光辐照后,在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线,亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复;第3阶段受高能量密度激光辐照后,ccd完全失效,无法恢复成像。针对ccd的饱和及恢复阶段,利用matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理,分析了激光辐照ccd对饱和像元数和对比度的影响。结果表明:当ccd受到激光辐照时,饱和像元数迅速增多,图像对比度迅速下降为零,激光脉冲消失后,整个ccd成像亮度下降,饱和像元数迅速下降为零,经过一段时间后ccd又恢复至线性工作状态,激光的能量密度越高,ccd恢复所需的时间就越长。研究还发现:当恢复时间超过0.6s,ccd出现不可恢复的白色条带,严重影响成像质量。

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